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Primavera López Salazar

Primavera López Salazar

Acreditaciones

Centro de Investigaciones en Dispositivos Semiconductores

SNI – Padrón Investigadores BUAP

Grados Académicos

Licenciatura: Licenciatura en Electrónica, 2008, Benemérita Universidad Autónoma de Puebla

Maestría: Maestría en Dispositivos Semiconductores, 2011, Benemérita Universidad Autónoma de Puebla.

Doctorado: Doctorado en Dispositivos Semiconductores, 2016, Benemérita Universidad Autónoma de Puebla.

Contacto

Nombre de Laboratorio: LABORATORIO DE RAYOS X

Correo Electrónico Institucional: primavera.lopez@correo.buap.mx

Teléfono Trabajo: 222 2295500 Ext.:

Edificio: IC6.

Docencia

  • Licenciatura en Ingenieria en Mecatronica, Licenciatura en Ingenieria en Sistemas Automotrices y Licenciatura en Ingenieria en Energías Renovables:
    • Matematicas Elementales, Electromagnetismo.

 

  • Maestría y Doctorado en Dispositivos Semiconductores:
    • Difracción de rayos X.

Perfil Académico

Egresada de la Licenciatura en Electrónica de la Facultad de Ciencias de la Electrónica de la Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, obtuve la Maestría y el Doctorado en Dispositivos Semiconductores en el Posgrado en Dispositivos Semiconductores del CIDS-ICUAP. Miembro del Sistema Nacional de Investigadores, Nivel I. He dirigido tesis y publicados artículos sobre la caracterización estructural, composicional y óptica de materiales con potencial aplicación en dispositivos, usando las técnicas de Difracción, Fluorescencia de rayos X y Fotoluminiscencia, principalmente. Actualmente, soy técnica Académica del laboratorio de rayos X del Centro de Investigaciones en Dispositivos Semiconductores del Instituto de Ciencias.

Investigación

Líneas de Investigación:

Caracterización estructural y composicional de materiales por técnicas de rayos X.

Descripción de sus proyectos de investigación:

Mediante el uso de la Difracción de rayos X (DRX) y la Fluorescencia de rayos X (FRX), la caracterización estructural y composicional de materiales resulta ser mucho más confiable y precisa. Ambas técnicas garantizan un análisis no destructivo y ambientalmente seguro. La DRX permite la identificación y cuantificación de fases cristalinas, mientras que la FRX determina la composición elemental de los materiales. El rango elemental que FRX puede determinar, va desde el Be hasta el U, desde ppm hasta el 100%. Sirve para determinar la composición elemental de una gran variedad de materiales, en estado líquido, sólido y en polvo. FRX también es una técnica apropiada para la identificación de impurezas, principalmente de metales pesados. Los proyectos de investigación que trabajo están basados en el análisis de materiales usando DRX, FRX y otras técnicas más, como fotoluminiscencia, fotorrespuesta y efecto hall.  Los materiales estudiados son diversos, por ejemplo: semiconductores como el óxido de zinc y el antimoniuro de galio aluminio, para aplicaciones en dispositivos optoelectrónicos. Muestras orgánicas de plantas, como el mezquite para estudios de biorremediación de suelos. Pastas de barro para determinar la conformidad con la especificación de contenido elemental, establecido por la norma mexicana de la talavera poblana.

Publicaciones

https://www.researchgate.net/scientific-contributions/Primavera-Lopez-Salazar-2090693357

 

Relaxation and tilting of single and double layer structures of AlGaSb/GaSb-LPE studied by high resolution x-ray diffraction.Primavera Lopez-Salazar, Gabriel Juarez-Diaz , Javier Martinez-Juarez, Martha Virginia Sosa-Rivadeneyra, Jorge I Contreras-Rascón, Carlos Palomino-Jimenez, José Alberto Luna-Lopez.  Materials Research Express, 2020, Volumen 7, 035901.

 

Effects of TiO2 Nanoparticles Incorporation into Cells of Tomato Roots.  Dulce Estefanía Nicolás-Álvarez 1 ,  José Alberto Andraca-Adame,  José Jorge Chanona-Pérez,  Juan Vicente Méndez-Méndez,  Raúl Borja-Urby,  Nicolás Cayetano-Castro,  Hugo Martínez-Gutiérrez,  Primavera López-Salazar. Nanomaterials 2021, 11(5), 1127.

 

Synthesis and Characterization of Nanoporous ZnO Films by Controlling the Zn Sublimation by Using ZnO/Zn Precursor Films.  Yazmin Mariela Hernández-Rodríguez,  Primavera Lopez-Salazar,  Gabriel Juarez-Diaz, Gabriel Romero Paredes-Rubio,  Ramón Peña-Sierra. Materials 2022, 15(16), 5509.

 

Controlling Size Distribution of Silver Nanoparticles using Natural Reducing Agents in MCM41@Ag. Gerardo-Miguel Bravo de Luciano, Yesmin Panecatl-Bernal, Blanca-Susana Soto-Cruz, Miguel Ángel Méndez-Rojas, Primavera López-Salazar, Salvador Alcántara-Iniesta, Melissa Chávez Portillo, Anabel Romero-López, Jesús-Israel Mejía-Silva, Joaquin Alvarado, Miguel Ángel Domínguez-Jiménez. ChemistrySelect 2022,Volumen 7 DOI:10.1002/slct.202202566

 

Study of fluorine-doped tin oxide thin films deposited by pneumatic spray pyrolysis and ultrasonic spray pyrolysis: a direct comparison. Raquel Ramírez-Amador, José Joaquín Alvarado-Pulido, Haydee Patricia Martínez-Hernández, Raúl Cortes- Maldonado, Salvador Alcántara-Iniesta, Gregorio Flores-Carrasco, Esteban Ojeda-Durán, Oleksandr Malik, Leonardo Morales-de la Garza, Miguel Ángel Méndez-Rojas, Yesmin Panecatl-Bernal, José Alberto Luna-López, Primavera López-Salazar. Materials Research Express, 2023.

Tesis Dirigidas

  • Ana Guadalupe Martínez Morales. “Efecto de la incorporación de Se en las propiedades ópticas y estructurales de películas de CdS depositadas por baño químico”.
  • Gabriela Esquina Arenas. “Estudio de la arcilla y cerámica de Talavera por técnicas de rayos X, incluyendo sus potenciales propiedades piezocapacitivas”.
  • Aldo Aram Rojas Bravo. “Análisis por fluorescencia y difracción de rayos X del efecto del tratamiento térmico en la composición y cristalinidad de películas de CdS impurificadas con Se”.
  • José Manuel Cortés Romero.“Desarrollo de sistema para mapeo de fotoluminiscencia en materiales semiconductores por medio de LabView”.
  • Wendy Sarahi López Santos. “Síntesis y caracterización de un material termoeléctrico tipo P de Bi2Te3 por aleación mecánica para aplicaciones en conversión de energía".

Vinculación

Capacitación en Fluorescencia de rayos X de longitud de onda dispersiva (WDFRX) en el Laboratorio de rayos X de la Universidad de Santander Colombia (2016).

 

Servicios:

Difracción de rayos X (DRX)

•          Medición por DRX

•          Análisis cualitativo por DRX

•          Análisis cualitativo por DRX con haz rasante

•          DRX de Alta Resolución y Reflectometría

Fluorescencia de rayos X (FRX)

•          Análisis elemental cualitativo por FRX

•          Análisis elemental semicuantitativo FRX

•          Análisis elemental cuantitativo por FRX